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使用hast加速老化箱对塑封器件分层设计的重要性

时间：2016-07-29 11:05 www.gdhast.com 浏览次数：

　　根据国内相关人员的实验结果得出，使用hast加速老化箱对塑封器件做HAST试验，可以得出通过正确的选择塑封材料及塑封参数等条件可适当提高塑封器件可靠性：

　　(1)芯片面积与载体面积比例较接近的器件更易分层。由于芯片面积无法更改，在塑封尺寸的选择时，可尽量选择较大的载体尺寸，增大塑封料与载体接触面积。如果载体面积也已固定，可适当加大塑封材料灌封时的压力，以便塑封材料与载体结合的更加紧密，减小造成塑封器件分层失效的可能。

　　2)对比不同塑封厂家加工的塑封器件hast加速老化箱进行试验结果可知，由于粘结材料不同试验后分层情况也有所差异，导电胶粘结的塑封器件更易分层，因此在设计时，可尽量选择绝缘胶粘结，提升塑封器件可靠性。

　　3)针对已封装完成无法改变塑封条件的器件，可采用真空涂敷工艺对工业级塑封元器件进行三防处理的方法以增强塑封器件密封性，有助于提高工业级塑封器件可靠性，使其接近军用环境下的使用要求，而且应用在元器件上的三防材料(主要是丙烯酸树脂、环氧树脂、硅树脂、聚安基甲酸树脂和聚对二甲笨)多数为透明材料，涂敷后不会影响塑封器件的辨别。

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