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  • 浅析hast试验箱使用寿命延长 日期:2019-04-06 13:42:59 点击:53 好评:0

    hast试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。...

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