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HAST非饱和高压加速老化箱水汽对电子封装的影响

时间:2016-08-22 15:44www.gdhast.com浏览次数:


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HAST非饱和高压加速老化箱水汽对电子封装的影响
 
  HAST非饱和高压加速老化箱水汽对电子封装可靠性的影响:腐蚀失效、分层裂开,改变塑封材料的性质,铝线中产生腐蚀过程;
 
  1、水汽渗透入塑封壳内 —湿汽移动到树脂间隙之中;
 
  2、水汽渗透到芯片表面引起铝化学反映。
 
  艾思荔HAST非饱和高压加速老化箱、加速寿命测试仪、HAST测试仪等试验设备广泛应用于线路板,多层线路板,IC半导体,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。
 
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